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  • 3270致茂Chroma 3270微型 IC 測(cè)試分類(lèi)機(jī)

    致茂Chroma 3270微型 IC 測(cè)試分類(lèi)機(jī) 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類(lèi)機(jī) 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí) IC 殘留檢測(cè)功能

    更新時(shí)間：2023-12-26
    產(chǎn)品型號(hào)：3270
    瀏覽量：1256
  • 3260致茂Chroma 3260自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)

    致茂Chroma 3260自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) 可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī) 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì) 具備處理QFP的能力 簡(jiǎn)易編輯通訊定義（ECD）功能 無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題 浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力

    更新時(shí)間：2023-12-26
    產(chǎn)品型號(hào)：3260
    瀏覽量：1269
  • 3240致茂Chroma 3240自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)

    致茂Chroma 3240自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) 可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī) 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì) 具備處理QFP的能力 簡(jiǎn)易編輯通訊定義（ECD）功能 無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題 浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力

    更新時(shí)間：2023-12-26
    產(chǎn)品型號(hào)：3240
    瀏覽量：1144
  • 3240-Q致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類(lèi)機(jī)

    致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類(lèi)機(jī) 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調(diào)整測(cè)試間距至120mm 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤(pán)

    更新時(shí)間：2023-12-26
    產(chǎn)品型號(hào)：3240-Q
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  • 3180致茂Chroma 3180八站邏輯測(cè)試分類(lèi)機(jī)

    致茂Chroma 3180八站邏輯測(cè)試分類(lèi)機(jī) 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 9Kpcs 產(chǎn)能 彈性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu) 減輕壓測(cè)力 自動(dòng)壓測(cè)力學(xué)習(xí) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測(cè)試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續(xù)自動(dòng)重測(cè)功能

    更新時(shí)間：2023-12-26
    產(chǎn)品型號(hào)：3180
    瀏覽量：1073
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