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泰克S500集成式測(cè)試系統(tǒng)S500 集成式測(cè)試系統(tǒng) 是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng)，適用于器件、晶片或暗盒級(jí)半導(dǎo)體檢定。S500 集成式測(cè)試系統(tǒng)基于我們經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的儀器，提供創(chuàng)新的測(cè)量功能和系統(tǒng)靈活性，...

泰克2600-PCT-4B參數(shù)曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列...

泰克2600-PCT-3B參數(shù)曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列...

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泰克DAQ6510/7700采集/記錄萬(wàn)用表DAQ6510 6½ 位數(shù)據(jù)采集和記錄萬(wàn)用表系統(tǒng)DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面，可在儀器上更快完成設(shè)置、實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)以及分...

泰克DAQ6510采集/記錄萬(wàn)用表DAQ6510 6½ 位數(shù)據(jù)采集和記錄萬(wàn)用表系統(tǒng)DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面，可在儀器上更快完成設(shè)置、實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)以及分析詳細(xì)數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)*的簡(jiǎn)...

泰克2182A/J型納伏表雙通道 2182A 型納伏表較適合進(jìn)行穩(wěn)定的低噪聲電壓測(cè)量，以及適合可靠且重復(fù)地檢定低阻材料和器件。 相比其他低電壓測(cè)量解決方案，其測(cè)量速度更快，噪聲性能顯著提高。 它提供簡(jiǎn)...

泰克2182A型納伏表雙通道 2182A 型納伏表較適合進(jìn)行穩(wěn)定的低噪聲電壓測(cè)量，以及適合可靠且重復(fù)地檢定低阻材料和器件。 相比其他低電壓測(cè)量解決方案，其測(cè)量速度更快，噪聲性能顯著提高。 它提供簡(jiǎn)化的...

泰克6221電流源6220 型直流電流源和 6221 型交流和直流電流源將易用性與極低的電流噪聲相結(jié)合。 在測(cè)試環(huán)境中，從研發(fā)到生產(chǎn)，尤其是在半導(dǎo)體、納米技術(shù)和超導(dǎo)體行業(yè)，低電流源對(duì)于應(yīng)用至關(guān)重要。 ...