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致茂Chroma 3110-FT 三溫測(cè)試分類機(jī)

主要特色：

• 可設(shè)定溫度范圍 -40℃~125℃
• 適用于 FT測(cè)試
• 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm
• 控制下壓觸力在1到10 kg (Optional)
• 具有4個(gè)產(chǎn)品分類料盤
• 支援遠(yuǎn)端控制操作
• 具有測(cè)試良率控制功能
• 具有連續(xù)自動(dòng)重測(cè)功能
• 具有即時(shí)監(jiān)控產(chǎn)品分類功能
• 整合Chroma混合型冰水機(jī)
• 支援 TSD 溫度控制
• 蕞佳工程三溫特性測(cè)試平臺(tái)
• UPH 蕞高可達(dá)500 pcs
• 控制下壓觸力在1到10 kg (選配)
• Socket溫度補(bǔ)償模組 (選配)
• 可支授系統(tǒng)層級(jí)測(cè)試 (SLT) (選配)

Chroma 3110-FT為一臺(tái)適用于IC終端測(cè)試（Final Test）工程產(chǎn)品特性及測(cè)試開發(fā)用途之測(cè)試分類設(shè)備。

3110-FT支持多種晶片測(cè)試，可支持的晶片尺寸從3x3 mm到45x45 mm。亦可加選遠(yuǎn)端監(jiān)控功能，操作者得以在任何地點(diǎn)透過網(wǎng)路操作以增加設(shè)備使用率.3110-FT三溫 測(cè)試分類機(jī)同時(shí)包含預(yù)溫區(qū)，可改善測(cè)試時(shí)間及產(chǎn)出;配有2個(gè)自動(dòng)分料盤及2個(gè)手動(dòng)分料盤，在僅1.4平方米的空間發(fā)揮蕞佳的IC分料能力以節(jié)省成本與時(shí)間。

整合色度混合型冰水機(jī)與TEC致冷晶片溫度控制器后，3110-FT可于進(jìn)行測(cè)試三溫測(cè)試時(shí)，同時(shí)控制殼溫及接面溫度。

3110-FT可支援大部分產(chǎn)業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)通信介面以及提供不同種類測(cè)試設(shè)備的對(duì)接方式。可精準(zhǔn)控制溫度范圍從-40℃到125℃。具有易于操作的軟體介面以及可快速更換待測(cè)產(chǎn)品之設(shè)計(jì)。將可大幅縮短停機(jī)時(shí)間而進(jìn)一步提高使用效率及產(chǎn)能。

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致茂Chroma 3110-FT 三溫測(cè)試分類機(jī)