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致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統(tǒng) 可同時(shí)檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴(kuò)膜晶圓(檢測區(qū)域達(dá)8吋范圍 ) 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項(xiàng)目 上片后晶圓自動(dòng)對(duì)位機(jī)制
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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng) 高速高精度 橫向、垂直和倒裝芯片 寬功率測試范圍(高達(dá)200 V/2A) 高達(dá)8英寸的晶片 Chroma巨型光電探測器